偏光显微镜分析是根据材料在偏振光下所呈现的光学特性利用偏光显微镜对材料进行定性、定量分析及显微结构研究。是岩相分析常用的分析技术。偏光显微镜在光学显微镜的光学系统中插入了起偏振镜和检偏振器，用以检查样品的各向异性和双折射性的显微镜。

偏光显微镜的操作步骤：

(1)按“显微镜观察玻片标本时的注意事项”所述的有关操作步骤和方法，分别用反光镜的平面镜和凹面镜对光。努力使视野中呈现一个处处一样亮的正目形。同时比较平面镜与凹面镜的反光能力的强弱。

(2)任选一种根或茎的切片标本，用钢笔在其盖玻片表面涂一直径约为1 mm的圆点，按前面所述的有关操作步骤安放和移动切片标本，使这一圆点正对低倍镜。然后用低倍镜检查。若发现视野中未见有目点区域，则调整圆点的位置，直至它进人了视野，这时总结经验教训，并随意移开圆点，重新使之正对低倍镜。争取一次对准。

(3)将偏光显微镜聚光镜升至其顶面与载物台表面几乎齐平处停下，然后一面向左旋拨光圈的小柄，一面观察视野里照明度的变化，直至小柄到达终点。再一面向右旋拨光圈的上柄，一面观察视野里照明度的变化，直至小柄到达终点。

(4)将光圈扩至大后停下，然后一面级级下降聚光镜，一面观察视野中明度的变化，直至偏光显微镜聚光镜降至其低位。再一面级缓上升聚光镜。一面观察视野中照明度变化，直至聚光镜升至与载物台儿乎齐平为止。

(5)调出偏光显微镜观察切片标本的焦距，调好后试探一下，将低倍物镜降至什么程度，才能使标本的影像消失。